ПРО ДЕЯКІ МОЖЛИВОСТІ КІЛЬКІСНОГО ЕЛІПСОМЕТРИЧНОГО ЕКСПЕРИМЕНТУ ДЛЯ ДОСЛІДЖЕННЯ СТРУКТУРИ ДВОМІРНИХ (2D) НАНОМАТЕРІАЛІВ
Анотація
Запропоновано алгоритм розрахунку похибок для нового еліпсометричного методу незалежного вимірювання параметрів ультратонких плівок двомірних (2D) наноматеріалів. Отримано залежності похибок показника заломлення і товщини ультратонких плівок від умов експерименту, що визначаються шорсткістю поверхні підкладки і величиною оптичного контрасту на поверхні “плівка-підкладка”. Встановлено, що автоматизація процесу і збільшення числа вимірювань до 25 або 100 дозволить звузити довірчий інтервал у 2 або 4 рази відповідно. Це дозволить пропорційно збільшити точність визначення кута падіння 0, при якому виконується умова = 0, і зменшити, відповідно, похибки основних параметрів прозорої плівки 1 n , 1 d .
Посилання
2. Splendiani A. Emerging Photoluminescence in Monolayer MoS2 / A. Splendiani, et al. // Nano Lett. – 2010. – 10. – P. 1271-1275.
3. Mak K. F. Atomically Thin MoS2: A New Direct-Gap Semiconductor / K. F. Mak, C. Lee, J. Hone, J. Shan, and T. F. Heinz // Phys. Rev. Lett.– 2010.– 105.– P. 136805.
4. Radisavljevic B. Single-layer MoS2 transistors / A. Radenovic, J. Brivio, V. Giacometti, and A.Kis // Nature Nanotech. – 2011. – 6. – P. 147-150.
5. Wang H. Electronics and optoelectronics of two-dimensional transition metal dichalcogenides / H. Wang et al. // Nature Nanotech. – 2012. – 7. – P. 699-712.
6. Sundaram R. S. Electroluminescence in Single Layer MoS2 / R. S. Sundaram, et al. // Nano Lett. – 2013. – 13. – P. 1416-1421.
7. Kravets V.G. Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs / V.G. Kravets et al. // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics // 2017. – 20. – N 3. – P. 284-296.
8. Lei Y. Room temperature, template-free synthesis of BiOI hierarchical structures: visible-light photocatalytic and electrochemical hydrogen storage properties / Y. Lei et al. // Dalton Trans. – 2010. – 39. – P. 3273-3278.
9. Liu Q.-C. Various Bismuth Oxyiodide Hierarchical Architectures: Alcohothermal-Controlled Synthesis, Photocatalytic Activities, and Adsorption Capabilities for Phosphate in Water / Q.-C.Liu et al. // ACS Appl. Mater. Interfaces 2013. – 5. – P. 11927-11934.
10. Cheng H. One-step synthesis of the nanostructured AgI/BiOI composites with highly enhanced visible-light photocatalytic performances / Cheng H. et al. // Langmuir 2010. – 26. – P. 6618-6624.
11. Zhang X. Electronic and band structure tuning of ternary semiconductor photocatalysts by self doping: the case of BiOI / X. Zhang et al. // J. Phys. Chem. C. – 2010. – 114. – P. 18198-18206.
12. Jiang J. ZnO/BiOI heterostructures: photoinduced charge-transfer property and enhanced visiblelight photocatalytic activity / J. Jiang et al. // J. Phys. Chem. C. – 2011. – 115. – P. 20555-20564.
13. Zhang, X. The stabilities and electronic structures of single-layer bismuth oxyhalides for photocatalytic water splitting / Zhang, X. et al. // Phys. Chem. Chem. Phys. – 2014. – 16. – P. 25854-25861.
14. Azzam R. M. A. Ellipsometry and polarized light / R. M. A. Azzam, and N. M. Bashara. – Amsterdam: North-Holland, 1987. – 539 р.
15. Aspnes D. E. Spectroscopic ellipsometry of solids / D. E. Aspnes // in Optical Properties of Solids: New Developments, edited by B. O. Seraphin. – Amsterdam: North-Holland, 1976. – P. 801-846.
16. Бобро В. В. О характере математической некорректности обратной задачи эллипсометрии для сверхтонких поверхностных пленок / В. В. Бобро, А. И. Семененко // Научное приборостроение. – 2000. – T. 10, № 4. – С. 31-37.
17. Teppner R. On the analysis of ellipsometric measurements of adsorption layers at fluid interfaces / R. Teppner, S. Bae, K. Haage, H. Motschmann // Langmuir. – 1999. – Vol. 15. – P. 7002-7007.
18. Reiter R. Ellipsometric microscopy. Imaging monomolecular surfactant layers at the air-water interface / R. Reiter, H. Motschmann, H. Orendi, A. Nemetz, W. Knoll, // Langmuir. – 1992. – Vol. 8. – P. 1784-1788.
19. Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films / ed-s: K. Hinrichs, K. J. Eichhorn. – Berlin Heidelberg: Springer-Verlag, 2014. – 362 p.
20. Johs B. Overview of variable angle spectro-scopic ellipsometry (VASE). Part II: advanced appli-cations / B. Johs, J.A. Woollam, C.M. Herzinger, J. Hilfiker, R. Synowicky, C.L. Bungay // Crit. Rev. Opt. Sci. Technol. – 1999. – Vol. CR72. – P. 29-58.
21. Kostruba A. Method for determination of the parameters of transparent ultrathin films deposited on transparent substrates under conditions of low optical contrast/ A. Kostruba, Yu. Stetsyshyn, and R. Vlokh // Applied Optics. – Vol. 54. –2015. – P. 6208-6216.
22. О точности и чувствительности метода эллипсометрии. І точность метода / К. К. Свиташев, А. И. Семененко, Л. В. Семененко, Е. С. Филатова // Опт. и Спектр. – 1972. – Т. 33. – С. 742-747.
23. Kostruba A. Surface modification by grafted sensitive polymer brushes: An ellipsometric study of their properties / A. Kostruba, M. Ohar, B. Kulyk, O. Zolobko, Y. Stetsyshyn // Applied Surface Science. – 2013. – Vol. 276. – P. 340-346.
24. Stetsyshyn Yu. Temperature and pH dual-responsive POEGMA-based coatings for protein adsorption / Yu. Stetsyshyn et al. // Journ. Coll. Interf. Sci. – 2013. – Vol. 411. – P. 247-256.
25. Kostruba A. Ex-situ ellipsometric study of the nanolayers of dihydroantracene oligoperoxide adsorbed on glass surface / A. Kostruba et al. // Ukr. J. Phys. Opt. – 2010. – Vol. 11. – № 4. – P. 269-276.
26. Stetsyshyn Y. Formation, structure and wettability of fluorescent nanolayers of oligoperoxide europium complexes adsorbed to glass surface / Yu. Stetsyshyn et al. // Thin Solid Films. – 2010. – Vol. 518, № 15. – P. 4318-4321.